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場(chǎng)發(fā)射電鏡是電子顯微鏡的一種。廣泛用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質(zhì)礦物、商品檢驗(yàn)、產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析?？梢杂^察和檢測(cè)非均相有機(jī)材料、無機(jī)材料及在上述微米、納米級(jí)樣品的表面特征。場(chǎng)發(fā)射分熱場(chǎng)和冷場(chǎng)，共性是分辨率高。熱場(chǎng)的束流大些，適合進(jìn)行分析，但維護(hù)成本相對(duì)較高，維護(hù)要求高。冷場(chǎng)做表面形貌觀測(cè)是適合的，相對(duì)而言維護(hù)成本低些，維護(hù)要求不算高。冷熱場(chǎng)發(fā)射電鏡有哪些區(qū)別？1、適用范圍不同。冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡是一種用于材料科...

傳統(tǒng)煤巖組分測(cè)試采用人眼識(shí)別和手工測(cè)試相結(jié)合的測(cè)試方法，存在測(cè)試效率低、操作人員易疲勞、煤巖組分識(shí)別主觀性強(qiáng)、測(cè)試過程不可追溯、測(cè)試人員鑒定水平提高慢、測(cè)試結(jié)果難以走向?qū)嶋H應(yīng)用等問題。以光度計(jì)為基礎(chǔ)的自動(dòng)測(cè)試僅能獲取反射率參數(shù)，因而也僅能利用反射率進(jìn)行組分識(shí)別，忽略了樣品的均勻程度、各向異性、光照條件及焦距均對(duì)測(cè)試所造成的較大影響。煤巖分析系統(tǒng)基于數(shù)字圖像處理技術(shù)（DIP技術(shù)），測(cè)試圖像可存儲(chǔ)、測(cè)試結(jié)果可追溯，屬于真正的圖像分析法，能得到測(cè)點(diǎn)位置、組分形態(tài)學(xué)或幾何學(xué)參數(shù)，具有...

原子力顯微鏡是一種可用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它通過檢測(cè)待測(cè)樣品表面和一個(gè)微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)及性質(zhì)。將一對(duì)微弱力敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時(shí)它將與其相互作用，作用力將使得微懸臂發(fā)生形變或運(yùn)動(dòng)狀態(tài)發(fā)生變化。掃描樣品時(shí)，利用傳感器檢測(cè)這些變化，就可獲得作用力分布信息，從而以納米級(jí)分辨率獲得表面形貌結(jié)構(gòu)信息及表面粗糙度信息。優(yōu)點(diǎn)：相對(duì)于掃描電子顯微鏡，原子力顯微鏡具有許多優(yōu)點(diǎn)。不同于電子...

單頻激光器，即單縱模激光器，它的特點(diǎn)是輸出的激光模式既滿足單橫模又滿足單縱模，其諧振腔內(nèi)部只有單一縱模進(jìn)行震蕩，并且輸出光強(qiáng)呈現(xiàn)高斯分布。除了激光本身良好的單色性和方向性外，單頻激光器擁有普通激光器難以達(dá)到的相干長(zhǎng)度長(zhǎng)、譜線寬度窄的特點(diǎn)。目前，單頻激光器主要用于分布式光纖聲波傳感系統(tǒng)、周界安全、用于相干激光雷達(dá)系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)高精度的成像、速度和距離的遙感探測(cè)。此外，石油和天然氣勘探系統(tǒng)、管道監(jiān)控、氣體泄漏檢測(cè)、冷原子物理、空間激光通信以及微波光子學(xué)等領(lǐng)域，單頻激光器也將發(fā)揮重要作用...

SEM掃描電鏡是利用電子束代替可見光作為探針，利用電磁透鏡代替光學(xué)透鏡聚集和控制電子束，聚集電子束在樣品上掃描，激發(fā)某種物理信號(hào)來調(diào)制一個(gè)同步掃描的顯像管在相應(yīng)位置的亮度而成像。SEM的電子槍發(fā)出的電子束經(jīng)過柵極靜電聚焦成點(diǎn)光源，然后在加速電壓的作用下經(jīng)過光學(xué)電子系統(tǒng)匯聚成直徑幾納米的電子束聚焦到樣品的表面，在末級(jí)透鏡上掃描線圈的作用下，電子束在樣品的表面掃描。由于高能電子束與試樣物質(zhì)發(fā)生相互作用產(chǎn)生各種信號(hào)，如二次電子、背散射電子、吸收電子、X射線、俄歇電子等，經(jīng)接收器、放...

光電探測(cè)器是指把光輻射轉(zhuǎn)換成電量（I或V）的器件。利用將光輻射信號(hào)轉(zhuǎn)換成電信號(hào)以進(jìn)行顯示或控制的功能，光探測(cè)器不僅可以代替人眼，而且由于其光譜響應(yīng)范圍寬，更是人眼的延伸。光電探測(cè)器的原理是由輻射引起被照射材料電導(dǎo)率發(fā)生改變。光電探測(cè)器在軍事和國(guó)民經(jīng)濟(jì)的各個(gè)領(lǐng)域有廣泛用途。在可見光或近紅外波段主要用于射線測(cè)量和探測(cè)、工業(yè)自動(dòng)控制、光度計(jì)量等；在紅外波段主要用于紅外熱成像、紅外遙感等方面。使用中如何才能使光電探測(cè)器保持最佳工作狀態(tài)呢？①光電探測(cè)器必須和輻射信號(hào)源及光學(xué)系統(tǒng)在光譜特...

X射線粉末衍射儀適用性很廣，通常用于測(cè)量粉末、單晶或多晶體等塊體材料，并擁有檢測(cè)快速、操作簡(jiǎn)單、數(shù)據(jù)處理方便等優(yōu)點(diǎn)。X射線是一種電磁波,入射到晶體時(shí)在晶體中產(chǎn)生周期性變化的電磁場(chǎng)。引起原子中的電子和原子核振動(dòng),因原子核的質(zhì)量很大振動(dòng)忽略不計(jì)。振動(dòng)著的電子是次生X射線的波源,其波長(zhǎng)、周相與入射光相同。基于晶體結(jié)構(gòu)的周期性,晶體中各個(gè)電子的散射波相互干涉相互疊加,稱之為衍射。散射波周相一致相互加強(qiáng)的方向稱衍射方向,產(chǎn)生衍射線。X射線粉末衍射儀的應(yīng)用介紹：1，判斷物質(zhì)是否為晶體。2...