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X射線衍射儀XRD作為一種重要的分析工具，在多個領(lǐng)域都發(fā)揮著重要作用。通過了解其基本原理、設(shè)備構(gòu)造、應(yīng)用范圍、表征參數(shù)以及樣品要求和制備方法，可以更好地利用這一技術(shù)進(jìn)行科學(xué)研究和生產(chǎn)實(shí)踐。X射線衍射儀XRD的維護(hù)保養(yǎng)方法包括以下幾個方面：-保持室內(nèi)溫度在15℃至25℃之間，高分辨儀器的房間溫度應(yīng)控制在22℃±1℃。-相對濕度應(yīng)維持在20%至80%之間。-確保環(huán)境整潔，定期清潔儀器內(nèi)部，避免灰塵聚集在重要部件上，如測角儀光學(xué)編碼盤。-注意振動和磁場等其他環(huán)境條件對...

X射線衍射儀XRD(X-RayDiffraction，簡稱XRD)是一種利用X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象來分析物質(zhì)結(jié)構(gòu)的方法。通過測量和分析材料對X射線的衍射圖譜，可以獲得材料的物相、晶體結(jié)構(gòu)、晶格參數(shù)等重要信息。XRD技術(shù)因其無損、精度高等優(yōu)點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、化學(xué)、地質(zhì)學(xué)、生物醫(yī)藥等多個領(lǐng)域。X射線本質(zhì)上是一種電磁波，其波長較短，大約在10^～10^cm之間。當(dāng)一束單色X射線入射到晶體時(shí)，由于晶體內(nèi)部原子規(guī)則排列，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長...

掃描電鏡作為一種強(qiáng)大的分析工具，其應(yīng)用范圍橫跨多個學(xué)科領(lǐng)域。隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步，未來將擁有更高的分辨率、更快的分析速度以及更廣泛的適用性。對于科研人員而言，掌握SEM的操作技能和數(shù)據(jù)分析方法，將是探索微觀世界、推動科學(xué)技術(shù)發(fā)展的重要手段。掃描電鏡的維護(hù)保養(yǎng)方法主要包括日常維護(hù)、電子光學(xué)系統(tǒng)的清洗與維護(hù)、真空系統(tǒng)的維護(hù)以及冷水機(jī)的維護(hù)等。-防塵罩和電源管理：在使用前后，應(yīng)去掉防塵罩并確保設(shè)備電源正常開啟或關(guān)閉。-調(diào)焦和亮度調(diào)整：操作時(shí)應(yīng)小心調(diào)整粗/微調(diào)旋鈕進(jìn)行調(diào)焦，避免物鏡接觸...

在現(xiàn)代科學(xué)和工業(yè)領(lǐng)域，掃描電鏡(ScanningElectronMicroscope,SEM)是一種重要的分析工具。它以其空間分辨率、豐富的表面信息和多樣的樣品適用性，成為材料科學(xué)、生命科學(xué)、半導(dǎo)體工業(yè)等領(lǐng)域不可少的關(guān)鍵技術(shù)之一。掃描電鏡的核心工作原理基于電子與物質(zhì)相互作用的理論。當(dāng)一束細(xì)聚焦的高能電子束照射到樣品表面時(shí)，會在樣品中激發(fā)出各種信號，如二次電子、背散射電子、特征X射線等。這些信號被相應(yīng)的探測器捕獲并轉(zhuǎn)換為圖像，從而提供關(guān)于樣品表面形貌和組成的信息。1.電子槍與電...

SEM掃描電鏡作為一種強(qiáng)大的顯微分析工具，其高分辨率成像能力和廣泛的應(yīng)用前景使其在科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)中扮演著越來越重要的角色。隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步，我們有理由相信，SEM將在未來的科技發(fā)展中發(fā)揮更大的作用，為人類探索未知世界提供更加準(zhǔn)確的視角和手段。SEM掃描電鏡(SEM)的維護(hù)保養(yǎng)是確保其正常運(yùn)行和延長使用壽命的關(guān)鍵：1.電子光學(xué)系統(tǒng)的清洗-清洗頻率：每次更換燈絲時(shí)，柵帽、柵帽光闌固定圈都要清洗，不必每次都要清洗物鏡光闌柄。當(dāng)見到明顯的污染及圖象象散過大時(shí)，就要清洗物鏡光闌柄...

最近，北京培科創(chuàng)新技術(shù)有限公司在國內(nèi)某大型企業(yè)研發(fā)中心安裝交付了美國ISS公司生產(chǎn)的新型穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀系統(tǒng)PC1-Chronos，測試結(jié)果和測試速度深得用戶稱贊。針對客戶的應(yīng)用，本系統(tǒng)配置了ISS公司最新的數(shù)字式TCSPC子系統(tǒng)用以測試TRPL時(shí)間分辨光致發(fā)光應(yīng)用，采用連續(xù)變頻皮秒脈沖激光器以及小于20暗計(jì)數(shù)的熱電致冷PMT探測器，TRPL熒光壽命測試范圍覆蓋50皮秒到數(shù)秒只需此同一硬件和軟件。用戶的鈣鈦礦薄膜樣品從手套箱中制備完成，以前的類似測試，數(shù)據(jù)采集需要數(shù)分鐘完成...

在現(xiàn)代科學(xué)研究和工業(yè)檢測領(lǐng)域，電子顯微鏡技術(shù)已經(jīng)成為了不可少的工具。其中，掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope，簡稱SEM)以其特殊的成像方式和廣泛的應(yīng)用范圍，成為了材料科學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)等多個學(xué)科研究的重要手段。SEM掃描電鏡是利用電子與物質(zhì)相互作用產(chǎn)生的信號來獲取樣品表面形貌信息的電子顯微鏡。與傳統(tǒng)的透射電鏡不同，通過掃描電子束照射到樣品表面，并收集從樣品反射回來的二次電子或背散射電子信號，從而獲得高分辨率的表面圖像。這種非破壞性的分析方...